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憶阻器單元基礎(chǔ)研究測試方案
2024-11-13
概述：
憶阻器英文名為 memristor, 用 符號 M 表示，與電阻 R，電容 C， 電感 L 構(gòu)成四種基本無源電路 器件，它是連接磁通量與電荷 之間關(guān)系的紐帶，其同時具備 電阻和存儲的性能，是一種新 一代高速存儲單元，通常稱為 阻變存儲器 (RRAM)。
憶阻器備受關(guān)注的重要應(yīng)用領(lǐng)域包括：非易失存儲 (Nonvolatile memory)，邏輯運算 (Logic computing)， 以及類腦神經(jīng)形態(tài)計 算 (Brain-inspired neuromorphic computing) 等。 這 三 種 截 然 不同又相互關(guān)聯(lián)的技術(shù)路線，為發(fā)展信息存儲與處理融合的新 型計算體系架構(gòu)，突破傳統(tǒng)馮 ? 諾伊曼架構(gòu)瓶頸，提供了可行 的路線。
在憶阻器研究不斷取得新成果的同時，基于憶阻器的多功能耦 合器件也成為研究人員關(guān)注的熱點。這些新型耦合器件包括： 磁耦合器件、光耦合器件、超導(dǎo)耦合器件、相變憶阻器件、鐵 電耦合器件等。
憶阻器基礎(chǔ)研究測試
憶阻器研究可分為基礎(chǔ)研究、性能研究以及集成研究三個階段， 此研究方法對阻變存儲器 (RRAM)、相變存儲器 (PCM) 和鐵電 存儲器 (FeRAM) 均適用。
憶阻器基礎(chǔ)研究階段主要研究憶阻器材料體系和物理機制，以及 對憶阻器器參數(shù)進行表征，并通過捏滯回線對憶阻器進行分類。
憶阻器基礎(chǔ)研究測試包括：直流特性、交流特性及脈沖特性測試。
憶阻器直流特性測試通常與 Forming 結(jié)合， 主 要測試憶阻器直流 V-I 曲線，并以此推算 SET/ RESET 電壓 / 電流、HRS、LRS 等憶阻器重要 參數(shù)，可以進行單向掃描或雙向掃描。
憶阻器交流特性主要進行捏滯回線的測試，捏滯 回線是鑒別憶阻器類型的關(guān)鍵。
憶阻器脈沖測試能有效地減小直流測試積累的焦 耳熱的影響，同時，也可以用來研究熱量對器件 性能的影響。由于憶阻器表征技術(shù)正向極端化發(fā) 展，皮秒級脈沖擦寫及信號捕捉的需求日益強烈。
泰克憶阻器基礎(chǔ)研究測試方案
高性價比測試方案
泰克方案優(yōu)勢 :
? 多種不同的配置方案，滿足不同的客戶需求
? 泰克中國具有本地研發(fā)團隊，滿足客戶定制化 的測試需求
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